**章 WBXC-1000蓄(xu)電池(chi)內阻分析(xi)裝置簡介

1. 說明

本手冊(ce)為WBXC-1000蓄(xu)電池(chi)內阻測(ce)試儀的使用指南(nan)，請在操作(zuo)使用測(ce)試儀前仔細閱讀本(ben)手冊。

2. WBXC-1000蓄電池(chi)內阻分(fen)析裝置(zhi)主機部(bu)件(jian)

2. 1  USB接口：用(yong)來通過U盤上(shang)傳測試數據和(he)下(xia)載參數；

2. 2  測試接口(kou)：連接測試夾具；

2. 3  充(chong)(chong)電接口(kou)：連接充(chong)(chong)電器(qi)；

2. 4  LCD：320*240彩色TFT液晶(jing)屏(ping)；

2. 5  鍵盤：共7個按鍵。定義(yi)如表一。

3. WBXC-1000蓄(xu)電(dian)池內阻分(fen)析(xi)裝(zhuang)置主要功能特(te)點

可(ke)對蓄電池電壓、內阻、容量進行測(ce)試；

可以作(zuo)為電壓表使(shi)用,測試電(dian)池電(dian)壓；

可對(dui)不同電壓等級的(de)蓄電池進行自(zi)動切(qie)換；

可對蓄電池進行容量測算(suan)；

測試數據同步存儲；

對(dui)判別結果進行聲音提示；

電池充電狀(zhuang)態指示；

本機電池(chi)電壓實(shi)時(shi)顯(xian)示；

無(wu)操作自動待機(ji)；

測試數據(ju)記(ji)錄存儲(chu)；

通過u盤和分析軟件系統(tong)進行數據交換(huan)。

4. WBXC-1000蓄電池(chi)內(nei)阻分析裝置技術(shu)指標

**章(zhang) WBXC-1000蓄電池(chi)內阻(zu)分(fen)析裝(zhuang)置內阻(zu)測(ce)試說(shuo)明  

電(dian)(dian)池內(nei)部阻(zu)(zu)抗，也稱為內(nei)阻(zu)(zu)，是一項(xiang)影(ying)響(xiang)電(dian)(dian)池性能的(de)(de)關鍵指標。測試電(dian)(dian)池內(nei)阻(zu)(zu)以(yi)判斷電(dian)(dian)池供(gong)電(dian)(dian)能力已(yi)經是業內(nei)的(de)(de)共識。影(ying)響(xiang)電(dian)(dian)池內(nei)阻(zu)(zu)的(de)(de)因素有：電(dian)(dian)池尺(chi)寸(cun)、工作(zuo)時間、結構、狀況、溫度(du)和充電(dian)(dian)狀態(tai)。

對于一個充(chong)滿電(dian)(dian)(dian)的(de)電(dian)(dian)(dian)池(chi)，當(dang)電(dian)(dian)(dian)池(chi)放(fang)電(dian)(dian)(dian)時，其內阻逐步緩(huan)慢增(zeng)(zeng)大；當(dang)電(dian)(dian)(dian)池(chi)放(fang)電(dian)(dian)(dian)達到一定程(cheng)度(du)后，內阻的(de)變(bian)化量(liang)才(cai)急速增(zeng)(zeng)大；當(dang)電(dian)(dian)(dian)池(chi)放(fang)完電(dian)(dian)(dian)后，其電(dian)(dian)(dian)阻比完全充(chong)電(dian)(dian)(dian)狀(zhuang)態時大2~5倍。

電(dian)池溫度也影響內阻(zu)的測量，但只在(zai)冰點以下才比(bi)較明(ming)顯。在(zai)32℉以下，溫度對內阻(zu)的影(ying)響(xiang)很大，在-20℉時的(de)內(nei)阻是(shi)原來的(de)兩(liang)倍(bei)。這就是(shi)為何在冬季電池的(de)能量要小很多。

電(dian)(dian)池(chi)的使(shi)(shi)(shi)用時間也會(hui)影(ying)響(xiang)其(qi)內(nei)阻(zu)。電(dian)(dian)池(chi)使(shi)(shi)(shi)用時間越長，隨著(zhu)鹽化增加內(nei)阻(zu)越大。內(nei)阻(zu)增加的多少(shao)與(yu)電(dian)(dian)池(chi)的使(shi)(shi)(shi)用和維護方法(fa)有關。電(dian)(dian)池(chi)的整體(ti)狀況（例(li)如機械(xie)裝置失效(xiao)）也會(hui)影(ying)響(xiang)電(dian)(dian)池(chi)的內(nei)阻(zu)。某些失效(xiao)模(mo)式(shi)會(hui)使(shi)(shi)(shi)電(dian)(dian)池(chi)內(nei)阻(zu)增加。

由于不同(tong)(tong)廠家在生產電池時(shi)，工藝、配方的(de)不同(tong)(tong)，造成同(tong)(tong)樣容量的(de)電池內(nei)阻(zu)有所差(cha)異，對電池好壞的(de)判斷不應(ying)完全拘泥于電池內(nei)阻(zu)的(de)**值(zhi)，還應(ying)參考電池內(nei)阻(zu)的(de)變化趨勢。當電池內(nei)阻(zu)超過初始內(nei)阻(zu)的(de)1.25倍(bei)時，電池就已(yi)經不能通過測(ce)試(shi)，當電池內阻變(bian)化到初始內阻的2倍后，電池結構(gou)容量就不足(zu)80%。

本(ben)內(nei)阻儀的(de)(de)采用瞬間放(fang)電(dian)法對電(dian)池(chi)(chi)進行(xing)內(nei)阻測量。對蓄(xu)電(dian)池(chi)(chi)的(de)(de)實(shi)際工作情(qing)況進行(xing)分析(xi)研(yan)究可以(yi)發現，蓄(xu)電(dian)池(chi)(chi)的(de)(de)端口對外(wai)電(dian)路呈現阻抗特性。在實(shi)際的(de)(de)使用中，蓄(xu)電(dian)池(chi)(chi)的(de)(de)電(dian)極，連(lian)接線等構成的(de)(de)電(dian)感(gan)，由于使用頻率低，引線短，電(dian)感(gan)很微弱，一般在分析(xi)和研(yan)究中不(bu)予考慮(lv)。

一般(ban)我們都將(jiang)蓄電(dian)(dian)(dian)池(chi)的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)分為金屬電(dian)(dian)(dian)阻(zu)，也即(ji)是歐(ou)姆(mu)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)；電(dian)(dian)(dian)化(hua)學電(dian)(dian)(dian)阻(zu)，包括電(dian)(dian)(dian)化(hua)學反應電(dian)(dian)(dian)阻(zu)和粒子濃差極化(hua)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)。關于容(rong)抗部分，法(fa)拉第電(dian)(dian)(dian)容(rong)因為其恒壓特性，可(ke)以將(jiang)其等效為一個電(dian)(dian)(dian)壓源。另外，將(jiang)其他容(rong)抗都等效變(bian)化(hua)為多個電(dian)(dian)(dian)容(rong)并聯形式，則(ze)電(dian)(dian)(dian)池(chi)的(de)(de)等效模型可(ke)以簡化(hua)如圖1所示。

Rm為金(jin)(jin)屬(shu)電(dian)(dian)(dian)阻，這部分的(de)(de)(de)電(dian)(dian)(dian)阻只(zhi)是(shi)隨著(zhu)金(jin)(jin)屬(shu)的(de)(de)(de)腐蝕、蠕變、硫化(hua)等因素而緩慢(man)地變化(hua)著(zhu)。電(dian)(dian)(dian)化(hua)學電(dian)(dian)(dian)阻Re則是(shi)隨著(zhu)容(rong)量的(de)(de)(de)狀態而時(shi)刻發生著(zhu)變化(hua)的(de)(de)(de)，但(dan)是(shi)這部分的(de)(de)(de)變化(hua)又為并聯著(zhu)的(de)(de)(de)電(dian)(dian)(dian)容(rong)的(de)(de)(de)容(rong)抗變化(hua)所掩(yan)蓋著(zhu)。在交流(liu)(liu)情況下，由(you)(you)于電(dian)(dian)(dian)容(rong) C 比較大，大部分電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)流(liu)(liu)經電(dian)(dian)(dian)容(rong)，而 Re上(shang)分流(liu)(liu)較少，此(ci)時(shi)檢(jian)測到(dao)的(de)(de)(de)實際上(shang)是(shi)由(you)(you)Rm和(he)(he)C串聯的(de)(de)(de)阻抗，而 Re被忽略(lve)了(le)。為了(le)避開C的(de)(de)(de)分流(liu)(liu)，直接由(you)(you)電(dian)(dian)(dian)池產生一個瞬(shun)(shun)時(shi)的(de)(de)(de)大放電(dian)(dian)(dian)電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)，然后測出電(dian)(dian)(dian)池極(ji)柱(zhu)上(shang)電(dian)(dian)(dian)壓的(de)(de)(de)瞬(shun)(shun)間(jian)變化(hua)，如圖2所示，通過負(fu)載接通時(shi)的(de)(de)(de)瞬(shun)(shun)間(jian)電(dian)(dian)(dian)壓降和(he)(he)斷開負(fu)載時(shi)的(de)(de)(de)瞬(shun)(shun)間(jian)電(dian)(dian)(dian)壓恢復可以推導出相(xiang)應的(de)(de)(de)內阻。

在(zai)瞬間(jian)直(zhi)流情(qing)況下，蓄電(dian)池的等效(xiao)模型可以(yi)認(ren)為(wei)是一個(ge)電(dian)壓源和內阻串聯 (戴維南(nan)等效(xiao)模型 )所(suo)構成，如圖3所(suo)示。

ΔU=RinternalI從(cong)而有Rinternal=ΔU/I

從理(li)論上(shang)說，在這里ΔU 有兩(liang)個，一個是給試驗電路加上負載(zai)的(de)(de)(de)瞬(shun)間(jian)，電池電壓(ya)(ya)跌落值，另外一個就(jiu)是斷開負載(zai)的(de)(de)(de)瞬(shun)間(jian)，電池電壓(ya)(ya)的(de)(de)(de)恢復(fu)值。但是，由于實驗過程中，在(zai)合閘瞬(shun)間(jian)，電壓(ya)(ya)和電流(liu)都(dou)容易引(yin)入很大的(de)(de)(de)沖擊(ji)，導致(zhi)較大的(de)(de)(de)誤差(cha)，所以這(zhe)里(li)統一采用電壓(ya)(ya)的(de)(de)(de)恢復(fu)值，而此時電流(liu)也基本上達到了(le)穩態(tai)。

本內(nei)(nei)阻(zu)儀可(ke)以測量電壓、內(nei)(nei)阻(zu)，估(gu)算出電池剩余(yu)容量。

第三(san)章 使用方(fang)法                                            

1. 準備

將測試線和內阻儀通過插頭(tou)連接(jie)起來。

本(ben)機電(dian)池應該充滿電(dian)。

2. 目視檢查

使用測試(shi)儀測試(shi)前應對被測電池進行如(ru)下檢查：

待測電池盒是否(fou)破裂。

待測電池(chi)單元(yuan)蓋是否破裂。

待(dai)測(ce)電池盒與電池單元(yuan)蓋的密封情(qing)況(kuang)。

待測電池接頭或(huo)接線柱是否被腐(fu)蝕。

待測電池壓板是(shi)否過松或過緊而使(shi)電池內部破裂。

待(dai)測(ce)電池(chi)上部污垢或導電酸。

電纜或(huo)導(dao)線(xian)磨損、斷裂或(huo)損壞(huai)。

待測電池接頭(tou)被(bei)腐蝕或過松。

3. 注意事項

使用本內阻(zu)儀進行(xing)測(ce)試時，應觀(guan)察(cha)所有設備制造商(shang)的(de)注意事(shi)項和警告。

測(ce)試前應仔細(xi)檢查所有測(ce)試引線(xian)的連接。

確認(ren)測試夾牢(lao)靠連接(jie)在電池的接(jie)線(xian)柱(zhu)上。

確認正(zheng)極(ji)和負極(ji)正(zheng)確連接在電(dian)池的接線柱上。

如(ru)果(guo)極(ji)性接反或未連(lian)接，電壓(ya)將顯示為(wei)零。

電(dian)池夾必(bi)須(xu)與(yu)電(dian)池連(lian)(lian)接牢(lao)固。否則將(jiang)出現(xian)錯(cuo)誤診斷。對(dui)于接線(xian)柱在側面的電(dian)池，將(jiang)測(ce)試夾夾在圓形電(dian)纜的接線(xian)端(duan)，而不是方(fang)形電(dian)纜的接線(xian)端(duan)。為了(le)確保連(lian)(lian)接牢(lao)固，必(bi)要時可(ke)拆(chai)下電(dian)池夾螺栓，并用一個側面轉接接頭(tou)代替。安(an)裝前檢查(cha)接線(xian)柱間隙是否足夠。

4. 電池測試

按下(xia)鍵1秒鐘(zhong),即可打開測試儀(yi)電(dian)源。自動(dong)進入【電(dian)池測試】界(jie)面。

在【電(dian)池(chi)測(ce)試(shi)】界面下(xia)，按(an)Enter鍵進(jin)(jin)行(xing)電(dian)池(chi)測(ce)試(shi)，按(an)左右鍵進(jin)(jin)行(xing)菜單切換，序號(hao)表(biao)示(shi)當前保存(cun)的(de)(de)序號(hao)值(zhi)(zhi)；右上角的(de)(de)圖標(biao)顯示(shi)內(nei)部鋰電(dian)池(chi)電(dian)量(liang)(liang)(liang)；電(dian)壓(ya)顯示(shi)被(bei)測(ce)電(dian)池(chi)電(dian)壓(ya)值(zhi)(zhi)；內(nei)阻為(wei)被(bei)測(ce)電(dian)池(chi)內(nei)阻數值(zhi)(zhi)（單位mΩ）；容量(liang)(liang)(liang)為(wei)被(bei)測(ce)電(dian)池(chi)剩余容量(liang)(liang)(liang)百(bai)分(fen)比；溫(wen)度是當前環境(jing)溫(wen)度；型號(hao)為(wei)所測(ce)電(dian)池(chi)安(an)時(shi)數，通過(guo)上下(xia)鍵選擇，當“型號(hao)”變為(wei)“基(ji)值(zhi)(zhi)”時(shi)，此時(shi)表(biao)示(shi)根(gen)據電(dian)池(chi)的(de)(de)基(ji)值(zhi)(zhi)（蓄(xu)電(dian)池(chi)滿(man)容量(liang)(liang)(liang)內(nei)阻值(zhi)(zhi)）進(jin)(jin)行(xing)測(ce)量(liang)(liang)(liang)，用戶可在“系統(tong)設置(zhi)”菜單中的(de)(de)“基(ji)值(zhi)(zhi)設定(ding)”設定(ding)電(dian)池(chi)的(de)(de)基(ji)值(zhi)(zhi)。

說明：鍵即(ji)為(wei)電(dian)(dian)源(yuan)開關鍵,電(dian)(dian)源(yuan)關閉時(shi)按(an)下可打開電(dian)(dian)源(yuan),電(dian)(dian)源(yuan)關閉狀(zhuang)態下按(an)鍵可打開電(dian)(dian)源(yuan),每(mei)次按(an)下時(shi)間需持續1秒以上(shang)方(fang)為(wei)有效。

5. 歷史(shi)記(ji)錄(lu)

在【電池測(ce)試】界(jie)面(mian)下按←、→ 鍵進入【歷史記錄】界(jie)面(mian)。

歷史記錄顯示從*新(xin)保存值開始排列，按↑↓鍵(jian)進行翻頁操作

6. 系統設置

在【電(dian)池(chi)測試(shi)】或者【歷史(shi)記(ji)錄】界面下(xia)按←、→ 鍵進入(ru)【參數系(xi)統】界面，按Enter鍵清楚(chu)所有保存的(de)數據！

其中，【基值(zhi)設(she)(she)定】設(she)(she)定蓄(xu)電池(chi)滿容(rong)量內阻值(zhi)，例如某(mou)品牌2V 300Ah蓄(xu)電池(chi)滿容(rong)量內阻值(zhi)為650微(wei)歐，該值(zhi)由蓄(xu)電池(chi)廠(chang)家提供；【時(shi)(shi)間(jian)設(she)(she)置(zhi)】設(she)(she)置(zhi)系統日(ri)期和時(shi)(shi)間(jian)；【數據處理】數據保(bao)存至(zhi)U盤(pan)(pan)及本機數據**，寫入U盤(pan)(pan)時(shi)(shi)保(bao)存為NZY_V20.TXT文件；【出廠(chang)設(she)(she)置(zhi)】由廠(chang)家設(she)(she)置(zhi)，客(ke)戶一般不需要進行設(she)(she)置(zhi)。

7. 提示音說明(ming)

開機(ji)是(shi)蜂鳴(ming)器(qi)發出短促的“嘟(du)”聲。

在【電池測(ce)試】界面下按(an)Enter鍵進行電(dian)池測(ce)試，測(ce)試開始與結束時蜂鳴器發出短促的“嘟”聲。

當內(nei)部溫度(du)高于一定值時內(nei)阻儀需要進行散(san)熱冷(leng)卻(que)，蜂鳴器發出連續(xu)的“嘟-嘟”聲，此(ci)時電(dian)池測試被禁用，等待冷(leng)卻以后蜂鳴器發出短(duan)促的“嘟”聲，此(ci)時可(ke)繼續進行電(dian)池測試。

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